簡述下ADSS光纜大衰耗點產生的幾種原因
瀏覽次數：1865發布日期：2019-12-27
ADSS光纜是為了滿足光學、機械或環境的性能規范而制造的，它是利用置于包覆護套中的一根或多根光纖作為傳輸媒質并可以單獨或成組使用的通信線纜組件。ADSS光纜主要是由光導纖維(細如頭發的玻璃絲)和塑料保護套管及塑料外皮構成，光纜內沒有金、銀、銅鋁等金屬，一般無回收價值。光纜是一定數量的光纖按照一定方式組成纜心，外包有護套，有的還包覆外護層，用以實現光信號傳輸的一種通信線路。即：由光纖(光傳輸載體)經過一定的工藝而形成的線纜。光纜的基本結構一般是由纜芯、加強鋼絲、填充物和護套等幾部分組成，另外根據需要還有防水層、緩沖層、絕緣金屬
ADSS光纜大衰耗點產生的幾種現象和原因
1、敷設時產生的大衰耗點
在光纜施工中，由于光纜敷設長度一般在2～3KM直埋敷設時，穿越的障礙物較多，在施工中，敷設人員較多，敷設距離較遠，難以保證所有敷設人員協調行動，特別是通過障礙物較多時，如：穿越防護鋼管，拐彎、上下坡等，從而出現俗稱的光纜打背扣(出現死彎)現象，對光纜造成嚴重傷害，一旦發生死彎現象，此處必然會出現一個大衰耗點，嚴重的會發生部分或全部光纖斷裂現象，這是光纜施工中容易出現的故障現象。此外，在敷設光纜時，光纜端頭的光纜Z容易受到損傷，在接續時，往往在接續點處顯示有較大衰耗值，此時，即使多次重復熔接，也不能降低接續損耗值，從而形成一個較大的衰耗點。
2、接續過程中產生的大衰耗點
在光纜接續過程中，產生大衰耗點是經常發生的，我們一般用OTDR(光時域反射儀)進行監測，即每熔接一根光纖，都用OTDR測試一下熔接點的衰耗值，具體測試時，采用雙向監測法，由于光纖制造過程中存在的差異性，兩根光纖不可能*一致，總是存在模場直徑不一致現象，從而導致了用OTDR所測的損耗值并不是接續點的實際損耗值，其數值有正有負，一般用雙向測試值的算術平均值作為實際衰耗值。在接續時，一般用實時監測法，基本能保證熔接損耗達到控制目標，但經常產生大損耗點的原因是在熔接完畢后進行光纖收容時，部分光纖受壓或彎曲半徑過小，即形成一個大衰耗點。因為1550nm波長的光纖對微彎損耗非常敏感，光纖一旦受壓，即產生一個微彎點，或盤纖時，彎曲半徑過小，光纖信號在此處也產生較大的衰耗，表現在光纖后向散射曲線上，就形成了一個較大的衰耗臺階；另外，一個比較容易忽視的原因是光纜接頭盒組裝完成后，固定接頭盒和固定光纜時，由于光纜在接頭盒內固定的不是很牢固，造成光纜擰轉，使光纖束管變形，由于光纖受壓，造成光纖衰耗值急劇增加，形成衰耗臺階。
3、運輸和裝卸造成的大衰耗點
在ADSS光纜運輸到施工現場時，由于現場環境比較惡劣，特別是敷設鐵路通信光纜時，吊車往往無法到達施工現場，此時，常常是通過人力裝卸光纜，在光纜卸下的過程中，外層光纜經常受到損傷，原因是光纜盤直徑過小，導致外層光纜離地面距離過近，由于現場地面土質軟硬不一，崎嶇不平，在滾動光纜盤的過程中，光纜盤陷入地面，導致外層光纜被地面硬物硌壞，主要原因是部分廠家為降低生產成本，采用較小的光纜盤。此外，光纜盤未用木板進行包封(有些是鐵架光纜盤，無法用木板進行包封)，而僅用塑料布在光纜外層進行包裹，或者是單盤測試后，光纜盤包封未恢復，起不到應有的防護作用，當光纜外層被石頭等硬物硌傷后，光纖在束管中受壓，即產生一個衰耗臺階，表現在光纖后向散射曲線上，就形成一個較大的衰耗點。
4、成端過程中產生的大衰耗點
在ADSS光纜成端過程中，也經常會產生大衰耗點。在成端時，由于一般不進行熔接損耗監測，僅憑經驗操作，因此，產生大衰耗點的幾率也大增。此外，在光纖熔接后安裝收容盤時，往往造成收容盤附近的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉變形，使光纖在此處產生一個較大的衰耗點，此類大衰耗點一般比較隱蔽，不像線路中間的大衰耗點用OTDR可以直接測出。
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